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涂层测厚仪试片和磁场对厚度的影响
日期：2024-09-27 05:27
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摘要：
涂层测厚仪试片和磁场对厚度的影响
试片
1、边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
2、曲率
试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
3、试片的变形
探头会使软覆盖层试件产生变形现象，因此在这些试件上测量会出现不太可靠的数据。
试片
1、边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
2、曲率
试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
3、试片的变形
探头会使软覆盖层试件产生变形现象，因此在这些试件上测量会出现不太可靠的数据。
磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性测量厚度的工作。应避免在强磁场或强电场附近使用本仪器，否则仪器会显示未知的数据，或者无法正常工作。